美國PSS粒度儀了分辨率更高，結(jié)果更，再現(xiàn)性更好，您不僅可以測量粒徑范圍更寬的顆粒，而且可以更快地檢測到顆粒粒徑間極細微的差異。PIDS技術(shù)，真正實現(xiàn)10nm粒徑測量；新型的干、濕進樣模塊，“即插即用”，滿足不同的分析要求，靈活便利。

   美國PSS粒度儀新一代固體激光光源，無需預(yù)熱，7萬小時以上開機使用壽命，并行式信號采集與傳輸，確保信號保持高信噪比、無時差、高通量，多波長和偏振光分析技術(shù)令粒度分布在寬動態(tài)范圍內(nèi)的性分析獲得高度保障。美國PSS粒度儀多種自動化樣品分散系統(tǒng)，“即插即用”，數(shù)秒即可完成切換，便利，新一代觸摸屏設(shè)計分析軟件，操作更直觀，無需操作經(jīng)驗，簡單三步完成測量，直觀醒目的導(dǎo)航輪，僅需一步實現(xiàn)數(shù)據(jù)顯示與導(dǎo)出。

   美國PSS粒度儀檢測器數(shù)量更多，高達132枚獨立物理位置檢測器，對應(yīng)高達136個真實數(shù)據(jù)通道，能夠清晰區(qū)分不同粒度等級間散射光強譜圖差異，確保不缺漏絲毫信息，快速、的真實粒度測量。美國PSS粒度儀設(shè)計的“X”型對數(shù)排布檢測器陣列，可以記錄散射光強信號，不管單峰、多峰，分析粒度分布。

   美國PSS粒度儀全自動運算分析功能，多峰自動檢測，無需事先猜測峰型，無需選擇分析模型，提供客觀的報告，PIDS技術(shù)提供創(chuàng)新的高分辨率納米粒度分析功能，真正實現(xiàn)10nm下限峰值測量，不僅可以直接檢測小至10nm的顆粒，而且還可以直接檢測納米級的多峰分布。納米分析功能與微米分析功能合二為一，功能強大，真正10nm的測量可使其作為獨立的高分辨率納米粒度分析儀使用。

   美國PSS粒度儀能對樣品的顆粒數(shù)目進行量化，打破了科技界以往通過光散射和光衍射方法只能檢測均粒徑分布的局限，不僅能檢測顆粒大小，更能對顆粒進行計數(shù)。美國PSS粒度儀這給了研究、生產(chǎn)和質(zhì)控人員對樣品中顆粒的大小、數(shù)目一個清晰明了的結(jié)果，大大助力于其研發(fā)和生產(chǎn)。